測試系統(tǒng)及其測試方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202011376834.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112486748A | 公開(公告)日 | 2021-03-12 |
申請公布號 | CN112486748A | 申請公布日 | 2021-03-12 |
分類號 | G06F11/22(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 程天駿 | 申請(專利權)人 | 北京澤石科技有限公司 |
代理機構 | 北京康信知識產(chǎn)權代理有限責任公司 | 代理人 | 董文倩 |
地址 | 100085北京市海淀區(qū)上地東路1號院1號樓2層203-1室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種測試系統(tǒng)及其測試方法。其中,該測試系統(tǒng)包括:用戶終端,接收測試任務,其中,測試任務包括:測試參數(shù)和測試腳本代碼;測試用插槽,用于放置待測試的樣品;測試控制器,與用戶終端進行互聯(lián)通信,用于運行上傳的測試任務,生成控制指令,將控制指令發(fā)送給測試執(zhí)行器;測試執(zhí)行器,測試執(zhí)行器與測試控制器互聯(lián)通信,且與測試用插槽相連,用于將接收到的控制指令通過具有硬件加速器的數(shù)據(jù)通路經(jīng)由物理接口發(fā)送至樣品,控制樣品執(zhí)行對應的測試操作,并收集測試執(zhí)行結果。本發(fā)明解決了現(xiàn)有技術中的測試系統(tǒng)中的接口控制器基于存儲器應用進行設計,由于測試過程耗時較長,導致測試效率低的技術問題。?? |
