一種IGBT的Switch參數(shù)測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111223878.8 申請日 -
公開（公告）號 CN113671340B 公開（公告）日 2022-02-22
申請公布號 CN113671340B 申請公布日 2022-02-22
分類號 G01R31/26（2014.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉煉祥;陳希辰;鐘有權(quán) 申請（專利權(quán)）人 佛山市聯(lián)動(dòng)科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 代理人 葉潔勇
地址 528000廣東省佛山市南海國家高新區(qū)新光源產(chǎn)業(yè)基地光明大道16號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種IGBT的Switch參數(shù)測試裝置，包括：電源模塊、控制模塊、正極電壓輸入端、負(fù)極電壓輸入端、接入電阻調(diào)整模塊、電感、續(xù)流二極管、集電極連接節(jié)點(diǎn)、柵極連接節(jié)點(diǎn)、發(fā)射極連接節(jié)點(diǎn)、極間電壓采樣電路、極間電流采樣電路、柵極電壓采樣電路、極間電流輸出節(jié)點(diǎn)、極間電壓輸出節(jié)點(diǎn)和柵極電壓輸出節(jié)點(diǎn)；通過提供IGBT的Switch參數(shù)測試裝置，使得該IGBT的Switch參數(shù)測試裝置可以對IGBT器件的Switch參數(shù)進(jìn)行多參數(shù)的測試，功能豐富。方便對IGBT器件的Switch參數(shù)進(jìn)行測試。本發(fā)明主要用于半導(dǎo)體測試技術(shù)領(lǐng)域。