全光纖光譜測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN02157678.5 申請日 -
公開(公告)號 CN1421679A 公開(公告)日 2003-06-04
申請公布號 CN1421679A 申請公布日 2003-06-04
分類號 G01J3/45 分類 測量;測試;
發(fā)明人 賈波 申請(專利權(quán))人 上海達(dá)光信息科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海正旦專利代理有限公司 代理人 復(fù)旦大學(xué);上海復(fù)旦智能監(jiān)控成套設(shè)備有限公司
地址 200433上海市邯鄲路220號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明是一種干涉式全光纖光譜測量方法。采用了一種與傳統(tǒng)邁克爾遜干涉儀不同的干涉光路,通過光在相同傳輸光路中的順時針、反時針傳輸,形成干涉。振動系統(tǒng)產(chǎn)生干涉光路的光程差,形成干涉信號的調(diào)制相位差,通過不同光波長在相同光程差條件下形成的不同干涉相位,通過對不同光譜分量的干涉信號疊加,形成最終的干涉信號。系統(tǒng)中全光纖干涉裝置由三只2×2光纖耦合器組成,激光經(jīng)過耦合器分光、差頻干涉后,產(chǎn)生穩(wěn)定的干涉條紋,經(jīng)探測器光電轉(zhuǎn)換后,分析干涉曲線,反演出光源光譜。與透鏡等分離光學(xué)器件構(gòu)造干涉光路測量光譜的方法不同,本發(fā)明的干涉光路免調(diào),系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單。本發(fā)明的全光纖光譜測量方法,數(shù)據(jù)處理方便,測量精度高。