一種多通道芯片老化系統(tǒng)及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011324523.3 申請日 -
公開（公告）號 CN112578253B 公開（公告）日 2022-03-08
申請公布號 CN112578253B 申請公布日 2022-03-08
分類號 G01R31/26（2014.01）I;G01R1/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李連城;潘儒勝;鄭波;孫鼎;張偉;過開甲;魏志堅 申請（專利權(quán)）人 深圳市迅特通信技術(shù)股份有限公司
代理機構(gòu) 深圳市世紀恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 代理人 關(guān)向蘭
地址 518000廣東省深圳市南山區(qū)桃源街道長源社區(qū)學苑大道1001號南山智園C3棟701、801
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種多通道芯片老化系統(tǒng)，系統(tǒng)包括：上位機、與老化裝置連接的老化電源、與老化電源連接的老化裝置；老化裝置包括：加電板、跨阻電芯片和至少一塊待老化芯片，加電板一端與老化電源連接；跨阻電芯片與加電板另一端連接；至少一塊待老化芯片同時與跨阻電芯片連接；固定于老化裝置中的焊盤，跨阻電芯片固定于焊盤上且與焊盤連接；殼體；殼體引腳，殼體引腳固定于殼體內(nèi)側(cè)；插座，插座固定于殼體外側(cè)，插座同時與殼體引腳連接。解決了現(xiàn)有技術(shù)中難以實現(xiàn)對APD芯片批量老化、對特殊封裝形式的APD芯片進行老化，以及裸芯片直接老化時加電不同引腳間出現(xiàn)不一致性的問題，實現(xiàn)了對不同封裝形式的APD芯片進行批量老化，提高芯片老化效果精確性。