一種葉片缺陷檢測方法及維護方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910510171.1 申請日 -
公開（公告）號 CN110174413B 公開（公告）日 2021-08-31
申請公布號 CN110174413B 申請公布日 2021-08-31
分類號 G01N21/95 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李建明;鄭燕;曾強雁;趙龍 申請（專利權(quán)）人 中新紅外科技（武漢）有限公司
代理機構(gòu) 武漢大楚知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 徐楊松
地址 430223 湖北省武漢市洪山區(qū)東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)武大園路8號武大科技園宏業(yè)樓二樓東科創(chuàng)星孵化器211-213室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種葉片缺陷檢測方法，包括如下步驟：S100a、獲取葉片整體的目標(biāo)圖像；S200a、基于光學(xué)檢測方法檢測出葉片表面和主動式紅外檢測方法檢測出葉片蒙皮下的缺陷；S300a、將檢測出的缺陷在目標(biāo)圖像上進行標(biāo)記。本發(fā)明的有益效果是：通過光學(xué)和紅外檢測可檢測出葉片的表面及蒙皮下缺陷，并在葉片的整體圖像中標(biāo)注出缺陷，利于后期查看葉片的狀況,除此之外，后續(xù)對此塊葉片進行檢測的時候，可對標(biāo)記出的缺陷進行重點關(guān)注，相對于人工檢測而言，本方法檢測精度高、誤差小，同時能夠檢測出肉眼無法觀察出的內(nèi)部缺陷。