一種標(biāo)準(zhǔn)硅片的制作方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111420109.7 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN114134558A | 公開(公告)日 | 2022-03-04 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN114134558A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-03-04 |
分類號(hào) | C30B13/10(2006.01)I;C30B29/06(2006.01)I | 分類 | 晶體生長〔3〕; |
發(fā)明人 | 李朋飛;徐巖;邢陽陽;徐雯;茍帥斌;左賽虎;曹艷云;常青;王俊;關(guān)文濤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 陜西有色天宏瑞科硅材料有限責(zé)任公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 張一軍;王安娜 |
地址 | 719208陜西省榆林市佳縣工業(yè)園 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種標(biāo)準(zhǔn)硅片的制作方法,涉及半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域。該方法的一具體實(shí)施方式包括:從硅棒上取出硅生長層;將所述硅生長層浸泡在摻雜了施受主元素的標(biāo)準(zhǔn)溶液中;從所述標(biāo)準(zhǔn)溶液中取出所述硅生長層,并對(duì)所述硅生長層采用區(qū)熔方法進(jìn)行制作,從而得到標(biāo)準(zhǔn)硅片。該實(shí)施方式能夠解決不存在能夠?qū)κ┦苤髟赝瑫r(shí)進(jìn)行摻雜且應(yīng)用在低溫傅里葉紅外檢測設(shè)備上的標(biāo)準(zhǔn)硅片的制作方法的技術(shù)問題。 |
