電子產(chǎn)品EDA設(shè)計可制造性的可視化檢測方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201210456732.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN102930114B | 公開(公告)日 | 2015-12-16 |
申請公布號 | CN102930114B | 申請公布日 | 2015-12-16 |
分類號 | G06F17/50(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 龍緒明;黃昊;賈建軍;鐘劫;李巍俊;張治敏;楊飛;任伯宇;閆明;嚴(yán)如俊;崔曉璐 | 申請(專利權(quán))人 | 常州奧施特信息科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 常州佰業(yè)騰飛專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 常州奧施特信息科技有限公司 |
地址 | 213023 江蘇省常州市鐘樓經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)玉龍南路213號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種電子產(chǎn)品EDA設(shè)計可制造性的可視化檢測方法:對EDA設(shè)計文件進行PCB?3D仿真,然后依次進行PCB物理參數(shù)檢測檢測、PCB可裝配性檢測、PCB焊接質(zhì)量檢測和Gerber?BOM坐標(biāo)檢測,并在PCB?3D仿真圖形上3D可視化顯示前述四項檢測的具體錯誤位置和類型。本發(fā)明在充分的實際生產(chǎn)經(jīng)驗基礎(chǔ)上,按照國際IPC標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)出一種電子產(chǎn)品EDA設(shè)計可制造性可視化檢測方法及其系統(tǒng),將EDA設(shè)計的PCB物理參數(shù)檢測檢測、可裝配性檢測、焊接質(zhì)量檢測和Gerber?BOM坐標(biāo)檢測集成,解決了PCB制造與設(shè)計的矛盾以及企業(yè)面臨的多種實際問題,提高了電子制造尤其是OEM制造的效率和質(zhì)量。 |
