顯微鏡支架檢測器具

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200720074231.2 申請日 -
公開（公告）號 CN201075148Y 公開（公告）日 2008-06-18
申請公布號 CN201075148Y 申請公布日 2008-06-18
分類號 G02B21/00(2006.01);G01B9/04(2006.01) 分類 光學(xué);
發(fā)明人 陳阿芳;方立新 申請（專利權(quán)）人 上海廣瀨－關(guān)勒銘精密機(jī)械有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海恩田旭誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 上海廣瀨－關(guān)勒銘精密機(jī)械有限公司;上海關(guān)勒銘有限公司
地址 201702上海市青浦區(qū)徐涇鎮(zhèn)徐民路618號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種顯微鏡支架檢測器具，包括一基板，所述基板上滑動(dòng)設(shè)置有用于將待檢工件定位并送入檢測區(qū)域的滑板裝置；所述基板一側(cè)還固定設(shè)置有用于檢測待檢工件高度、寬度及上下寬度偏斜度的立柱裝置；所述立柱裝置上端設(shè)置有用于檢測待檢工件同軸度、垂直度的擺桿裝置。由于采用了上述結(jié)構(gòu)，本實(shí)用新型獲得了使用便利、成本低、效率高、精確性好、穩(wěn)定性高的有益效果。