一種芯片封測金線檢測裝置及其使用方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110613955.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113363186A | 公開(公告)日 | 2021-09-07 |
申請公布號 | CN113363186A | 申請公布日 | 2021-09-07 |
分類號 | H01L21/67;H01L21/66 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 任勇;馬觀嵐 | 申請(專利權(quán))人 | 蘇州有道芯量智能科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 杭州山泰專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 周玲 |
地址 | 215300 江蘇省蘇州市昆山市淀山湖鎮(zhèn)萬園路66號A05棟304室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種芯片封測金線檢測裝置及其使用方法,該裝置包括高清相機(jī),還包括固定結(jié)構(gòu)單元和移動結(jié)構(gòu)單元,所述固定結(jié)構(gòu)單元包括機(jī)架、與機(jī)架通過螺栓相連設(shè)在機(jī)架內(nèi)側(cè)的支撐架、與支撐架通過螺栓固定的垂直基板。本發(fā)明中,通過圖像對比模塊將高清相機(jī)拍攝的圖像與數(shù)據(jù)庫模塊內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)圖像進(jìn)行余弦相似度計算,若余弦相似度達(dá)到指定值判定檢測合格,若余弦相似度未達(dá)到指定值判定檢測不合格,剔除不合格的芯片,取下合格的芯片,通過裝置檢測,不需要人工檢測,檢測效率高,不易受人為因素影響,避免誤檢、漏檢現(xiàn)象,降低人工勞動強(qiáng)度,降低了芯片生產(chǎn)的故障率。 |
