一種基于快速密度峰值聚類的電子元器件聚類方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110797965.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113255288B | 公開(公告)日 | 2021-09-24 |
申請公布號 | CN113255288B | 申請公布日 | 2021-09-24 |
分類號 | G06F30/398;G06K9/62 | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 樊鑫安;劉暢;王明;杜姍姍;肖偉 | 申請(專利權(quán))人 | 成都威頻通訊技術(shù)有限公司 |
代理機構(gòu) | 成都誠中致達(dá)專利代理有限公司 | 代理人 | 曹宇杰 |
地址 | 611731 四川省成都市高新區(qū)天全路200號2號樓1203-1204號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種基于快速密度峰值聚類的電子元器件聚類方法,涉及電子元器件聚類技術(shù)領(lǐng)域,方法包括步驟:輸入電子元器件的測試參量值,進(jìn)行歸一化;對每一個樣本進(jìn)行近鄰查詢構(gòu)建k近鄰矩陣和k近鄰距離矩陣;取每一個樣本與其k個近鄰的距離均值的倒數(shù)作為其局部密度;根據(jù)當(dāng)前樣本的局部密度與其所有k近鄰的局部密度,區(qū)分為核心點與非核心點;確定相對距離;根據(jù)核心點的局部密度和相對距離,形成二維決策圖,從決策圖中選擇作為中心點;分配核心點和樣本點,整合所有樣本點所在的類簇,形成最終的聚類結(jié)果,對每一個類簇中的中心點對應(yīng)的測試參量值進(jìn)行標(biāo)注,則該類簇中其余樣本點所對應(yīng)的測試參量值可以根據(jù)中心點的標(biāo)注結(jié)果進(jìn)行自動標(biāo)注。 |
