一種氟鉭酸鉀中硅含量的測定方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201410177723.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN103940807A | 公開(公告)日 | 2014-07-23 |
申請公布號 | CN103940807A | 申請公布日 | 2014-07-23 |
分類號 | G01N21/73(2006.01)I;G01N1/38(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 黃雙;曾國忠;周麗 | 申請(專利權)人 | 廣東廣晟稀有金屬光電新材料有限公司 |
代理機構 | 東莞市中正知識產(chǎn)權事務所 | 代理人 | 張漢青 |
地址 | 510900 廣東省廣州市從化神崗鎮(zhèn)赤草 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種氟鉭酸鉀中硅含量的測定方法,該測定方法是采用ICP光譜儀,并采用耐氫氟酸進樣系統(tǒng);選用提純后的電子級硝酸和氫氟酸;調(diào)整ICP光譜儀矩管的中心管、內(nèi)管的高度使火焰底部與ICP光譜儀矩管的石英外管的距離比標準距離增加約50%;且每次測定與下次測定之間選用表面活性劑Triton-X100配制的溶液作為洗液,對ICP光譜儀的進樣系統(tǒng)進行清洗。本發(fā)明方法克服業(yè)內(nèi)一貫的技術壁壘,通過耐HF酸進樣系統(tǒng)的引入、ICP光譜儀矩管中心管、內(nèi)管位置調(diào)整、特定參數(shù)的設定、洗液的研制、標準樣品的制備、試劑的提純及選擇等綜合技術方案,實現(xiàn)用ICP光譜分析氟鉭酸鉀中的硅元素含量,并且測定下限達到0.0005%,在國內(nèi)同行中屬首創(chuàng)。 |
