基于射頻識(shí)別技術(shù)的電纜接頭搪鉛損壞檢測(cè)裝置及方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011407001.X | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN112326918A | 公開(公告)日 | 2021-02-05 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN112326918A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-02-05 |
分類號(hào) | G01N33/2045(2019.01)I; | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 張志軍;楊剛;陳俊;李棟華;袁康 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 浙江圖維科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京馳納智財(cái)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 李佳佳 |
地址 | 310012浙江省杭州市文一西路998號(hào)海創(chuàng)園科研孵化區(qū)塊4號(hào)樓4樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種基于射頻識(shí)別技術(shù)的電纜接頭搪鉛損壞檢測(cè)裝置及方法,所述檢測(cè)裝置主要包括內(nèi)置于電纜接頭銅殼與電纜鎧裝連接處的電子標(biāo)簽,和外置于電纜接頭銅殼與電纜鎧裝連接處的電子標(biāo)簽讀取器,以及電子標(biāo)簽外護(hù)套;高壓電纜的電纜鎧裝與電纜接頭銅殼實(shí)施搪鉛鏈接處理后形成一個(gè)金屬閉合腔體,外置于電纜接頭銅殼與電纜鎧裝連接處的電子標(biāo)簽讀取器與內(nèi)置于電纜接頭銅殼與電纜鎧裝連接處的電子標(biāo)簽相互匹配,識(shí)別標(biāo)簽的存在和ID號(hào);當(dāng)電纜接頭銅殼與電纜鎧裝連接處的搪鉛完整時(shí),內(nèi)置的電子標(biāo)簽將不可以讀取到;當(dāng)電纜接頭銅殼與電纜鎧裝以及搪鉛組成的金屬閉合腔體破損,電子標(biāo)簽讀取器可以讀取到內(nèi)置的電子標(biāo)簽,有效檢測(cè)搪鉛是否破損。?? |
