場景式智能自動測試平臺及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201710631990.2 申請日 -
公開（公告）號 CN107505520B 公開（公告）日 2021-12-28
申請公布號 CN107505520B 申請公布日 2021-12-28
分類號 G01R31/00（2006.01）I;G01R35/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李俊慶;陳中;錢晶 申請（專利權）人 北京博電新力電氣股份有限公司
代理機構 南京蘇高專利商標事務所（普通合伙） 代理人 竇賢宇
地址 100176 北京市大興區(qū)北京經(jīng)濟技術開發(fā)區(qū)經(jīng)海三路139號院1號樓A座2層（北京自貿試驗區(qū)高端產(chǎn)業(yè)片區(qū)亦莊組團）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種場景式智能自動測試平臺及方法，所述平臺包括測試功能虛擬模塊、測試用例模塊、接口模塊和測試報告生成模塊，測試功能虛擬模塊用于通過設定測試場景的描述方法和參數(shù)，使其能夠用于不同類型的設備測試；所述測試功能虛擬模塊包括若干測試功能子模塊；測試用例模塊用于依據(jù)測試功能子模塊的參數(shù)生成對應待測裝置測試用例文件；接口模塊包括用于和不同測試儀器信號連接、以控制測試儀器輸出和反饋的驅動接口模塊，以及與不同類型的待測裝置通訊連接的平臺接口模塊；測試報告生成模塊用于調用測試儀接口模塊控制測試儀輸出測試量，調用待測裝置通訊接口模塊接收自動測試的數(shù)據(jù)，并按照規(guī)定的格式輸入。