一種微型激光芯片老化測(cè)試系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | 2020212329909 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN212433335U | 公開（公告）日 | 2021-01-29 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN212433335U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-01-29 |
| 分類號(hào) | G01R31/28(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 林輝 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 武漢普斯訊科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京科億知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 傅海鵬 |
| 地址 | 436070湖北省鄂州市葛店開發(fā)區(qū)創(chuàng)業(yè)大道40號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開了一種微型激光芯片老化測(cè)試系統(tǒng)，涉及微型激光器測(cè)試領(lǐng)域，其包括上電模塊、溫控模塊和機(jī)架模塊，所述上電模塊、溫控模塊均安裝于所述機(jī)架模塊上，所述溫控模塊包括設(shè)置于機(jī)架模塊上的風(fēng)扇、溫控器、顯示器、溫控開關(guān)和多個(gè)老化子箱，老化子箱內(nèi)設(shè)置有微型激光芯片，所述風(fēng)扇、溫控器、顯示器、溫控開關(guān)和多個(gè)老化子箱相互電連接；所述溫控模塊用于控制各個(gè)老化子箱的溫度；所述上電模塊用于為各個(gè)老化子箱中的微型激光芯片供電。整個(gè)系統(tǒng)能夠用于對(duì)不同規(guī)格型號(hào)的微型激光芯片的老化測(cè)試，且能夠在多個(gè)通道集中進(jìn)行老化測(cè)試，同時(shí)，操作方便、價(jià)格低廉。?? |
