雷達(dá)芯片的測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010307880.2 申請日 -
公開（公告）號 CN111426940A 公開（公告）日 2020-07-17
申請公布號 CN111426940A 申請公布日 2020-07-17
分類號 G01R31/28 分類 -
發(fā)明人 江明;陳勇;修劍平;林越 申請（專利權(quán)）人 矽典微電子（上海）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 蘇州三英知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 矽典微電子（上海）有限公司
地址 201203 上海市浦東新區(qū)自由貿(mào)易試驗區(qū)張衡路666弄1號207室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明揭示了一種雷達(dá)芯片的測試系統(tǒng)。所述測試系統(tǒng)包括：信號源，用于為待測雷達(dá)芯片提供射頻信號；頻譜儀，用于測量待測雷達(dá)芯片的發(fā)射信號；測試板，用于支持待測雷達(dá)芯片工作，并將待測雷達(dá)芯片的射頻輸出端口和射頻輸入端口引出；射頻接口模塊，包括用于將測試板上待測雷達(dá)芯片的射頻輸入端口連接至信號源的第一功分器、以及將測試板上待測雷達(dá)芯片的射頻輸出端口連接至頻譜儀的第二功分器；ATE機(jī)臺，用于獲取所述頻譜儀和/或待測雷達(dá)芯片的測量數(shù)據(jù)，以判斷待測雷達(dá)芯片的發(fā)射性能和/或接收性能是否達(dá)到設(shè)定目標(biāo)。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)包括能夠?qū)崿F(xiàn)多路相同信號的串行測試以及多路不同信號的并行測試，提高測試效率，將低測試成本。