p型疊層漸變帶隙硅量子點(diǎn)多層膜及其制備方法和應(yīng)用
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201910965910.6 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN110854215A | 公開(公告)日 | 2020-02-28 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN110854215A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-02-28 |
分類號(hào) | H01L31/0224;H01L31/028;H01L31/0352;H01L31/0745;H01L31/18 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 單丹;周壽斌;唐明軍;楊瑞洪;曹蘊(yùn)清;錢松;仇實(shí);陳雪圣 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 江蘇華富儲(chǔ)能新技術(shù)股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 南京蘇創(chuàng)專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 江蘇華富儲(chǔ)能新技術(shù)股份有限公司;揚(yáng)州工業(yè)職業(yè)技術(shù)學(xué)院 |
地址 | 225600 江蘇省揚(yáng)州市高郵經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)高郵市電池工業(yè)園 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種p型疊層漸變帶隙硅量子點(diǎn)多層膜及其制備方法和應(yīng)用,屬于光電技術(shù)領(lǐng)域,該p型疊層漸變帶隙硅量子點(diǎn)多層膜包括6層硅量子點(diǎn)薄膜,每兩層硅量子點(diǎn)薄膜厚度一致,相同厚度規(guī)格的硅量子點(diǎn)薄膜相鄰,相鄰的碳化硅薄膜之間有一層硅量子點(diǎn)薄膜。該制備方法為通過等離子體增強(qiáng)氣相沉積工藝在n型硅襯底2和n型硅納米線3上生長p型疊層漸變帶隙硅量子點(diǎn)多層膜。該應(yīng)用采用p型疊層漸變帶隙硅量子點(diǎn)多層膜制備太陽能電池,該電池包括依次疊加的Al電極層、n型硅襯底、n型硅納米線、p型疊層漸變帶隙硅量子點(diǎn)多層膜、石墨烯層和Au電極層。本發(fā)明利用疊層硅量子點(diǎn)多層薄膜的漸變帶隙來拓寬吸收層中的光響應(yīng)范圍,改善了器件的光電性能。 |
