一種可檢測擊穿電壓的雙極型晶體管制造裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210175725.9 申請日 -
公開（公告）號 CN114609499A 公開（公告）日 2022-06-10
申請公布號 CN114609499A 申請公布日 2022-06-10
分類號 G01R31/26（2014.01）I;H01L21/66（2006.01）I;H01L21/68（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 程萬坡;張興杰;王榮元 申請（專利權(quán)）人 江蘇韋達半導(dǎo)體有限公司
代理機構(gòu) 北京康達聯(lián)禾知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 225000江蘇省揚州市維揚經(jīng)濟開發(fā)區(qū)科技園路8號8
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于電子元件生產(chǎn)領(lǐng)域，尤其是一種可檢測擊穿電壓的雙極型晶體管制造裝置，針對現(xiàn)有的雙極型晶體管在生產(chǎn)過程中，沒有設(shè)置相關(guān)的擊穿檢測裝置，還需人工進行檢測，比較浪費時間，使得生產(chǎn)效率低下的問題，現(xiàn)提出如下方案，其包括底座，所述底座的頂部固定安裝有安裝架，且安裝架的頂部固定安裝有放置罩，所述放置罩內(nèi)設(shè)有晶體管，所述安裝架的頂部內(nèi)壁上對稱固定安裝有插接組件，且插接組件的數(shù)量為兩個，本發(fā)明通過對晶體管進行卡裝定位，之后可對晶體管進行正向和反向電流測試，以此能夠?qū)w管進行性能測試和逆向擊穿測試，因此相較于傳統(tǒng)的檢測方式，本技術(shù)方案具有良好的方便性，因此能夠提高晶體管的生產(chǎn)效率。