高溫度特性門極靈敏型觸發(fā)可控硅芯片的制作工藝
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110423467.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113161238A | 公開(公告)日 | 2021-07-23 |
申請公布號 | CN113161238A | 申請公布日 | 2021-07-23 |
分類號 | H01L21/332;H01L29/06 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 張興杰;程萬坡;卜程德;王榮元 | 申請(專利權(quán))人 | 江蘇韋達(dá)半導(dǎo)體有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 南京蘇科專利代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 陳棟智 |
地址 | 225000 江蘇省揚州市邗江區(qū)科技園路8號8 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種高溫度特性門極靈敏型觸發(fā)可控硅芯片的制作工藝,包括以下步驟:在單晶硅片上生長一層氧化層,在芯片邊緣進(jìn)行對通隔離擴(kuò)散,再進(jìn)行背面陽極區(qū)及正面短基區(qū)P擴(kuò)散;在正面短基區(qū)P上進(jìn)行磷擴(kuò)散;在正面進(jìn)行局部腐蝕,形成深溝槽;在正面門極與陰極交界處附近進(jìn)行腐蝕,形成淺溝槽;在表面及溝槽內(nèi)沉積一層SIPOS,作為PN結(jié)最底層的鈍化層;在溝槽內(nèi)、SIPOS上填充一層玻璃層作為最終的保護(hù)鈍化層;通過LPCVD方法在表面生長一層氧化層作為引線孔光刻的過渡層;在正面、背面光刻出引線窗口,同時在邊緣開出劃片槽;正、背面金屬化后,得到芯片。通過提高門極靈敏型觸發(fā)可控硅的溫度特性,來提高產(chǎn)品使用的最高結(jié)溫,提升產(chǎn)品的高溫適應(yīng)性能。 |
