一種光測距方法及設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201711492571.1 申請日 -
公開(公告)號 CN108387902B 公開(公告)日 2018-08-10
申請公布號 CN108387902B 申請公布日 2018-08-10
分類號 G01S17/08(2006.01)I 分類 測量;測試;
發(fā)明人 李傳文;孫立平;肖愷 申請(專利權(quán))人 武漢靈途傳感科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 武漢靈途傳感科技有限公司
地址 430074湖北省武漢市東湖高新技術(shù)開發(fā)區(qū)東一產(chǎn)業(yè)園
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種光測距方法及設(shè)備。所述方法包括:向待測目標(biāo)發(fā)射第一預(yù)設(shè)頻率和第一預(yù)設(shè)相位的發(fā)射光信號,獲得所述待測目標(biāo)散射或反射的光信號;通過光探測器接收所述散射或反射的光信號,所述光探測器還接收具有第二預(yù)設(shè)頻率和第二預(yù)設(shè)相位的偏置電壓信號,且所述第二預(yù)設(shè)頻率與所述第一預(yù)設(shè)頻率相等;調(diào)節(jié)所述第二預(yù)設(shè)相位并獲取所述散射或反射的光信號通過所述光探測器發(fā)生混頻后的低頻信號的信號強(qiáng)度;根據(jù)所述低頻信號的信號強(qiáng)度以及所述第一預(yù)設(shè)相位和第二預(yù)設(shè)相位的第一相位差,獲取所述發(fā)射光信號與所述散射或反射的光信號的第二相位差并計(jì)算所述待測目標(biāo)的距離。本發(fā)明可實(shí)現(xiàn)與外部信號的準(zhǔn)確同步及多個(gè)目標(biāo)的測量。??