一種半導體器件及其應用與制造方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111423731.3 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113990949A | 公開(公告)日 | 2022-01-28 |
申請公布號 | CN113990949A | 申請公布日 | 2022-01-28 |
分類號 | H01L29/778(2006.01)I;H01L21/335(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 林信南;石黎夢 | 申請(專利權)人 | 深圳市晶相技術有限公司 |
代理機構 | 上海光華專利事務所(普通合伙) | 代理人 | 王積毅 |
地址 | 518000廣東省深圳市坪山區(qū)坑梓街道秀新社區(qū)錦繡中路14號深福?,F(xiàn)代光學廠區(qū)B棟511 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種半導體器件及其應用與制造方法,所述半導體器件包括:襯底;溝道層,設置在所述襯底上;勢壘層,設置在所述溝道層上;漏極,設置在所述勢壘層上,且與所述溝道層接觸;柵極,設置在所述勢壘層上,且所述柵極環(huán)繞所述漏極設置;以及源極,設置在所述勢壘層上,且與所述溝道層接觸,所述源極位于所述柵極的外側。通過本發(fā)明提供的一種半導體器件,可提高所述半導體器件的性能。 |
