驅(qū)動測試結構、陣列基板及顯示面板

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202220637906.4 申請日 -
公開（公告）號 CN216956611U 公開（公告）日 2022-07-12
申請公布號 CN216956611U 申請公布日 2022-07-12
分類號 G02F1/1362（2006.01）I;G02F1/1345（2006.01）I 分類 光學;
發(fā)明人 胡云欽;黃世帥;張立志;王曉潔;李榮榮 申請（專利權）人 滁州惠科光電科技有限公司
代理機構 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 -
地址 239000安徽省滁州市經(jīng)濟技術開發(fā)區(qū)蘇滁大道101號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及顯示技術領域，提供一種驅(qū)動測試結構、陣列基板及顯示面板，驅(qū)動測試結構設于陣列基板的扇出區(qū)，驅(qū)動測試結構包括：多個焊盤，多個焊盤間隔設置；至少一測試墊組，測試墊組設于任意相鄰的兩個焊盤之間；多個焊盤與測試墊組相互連通。本申請通過把測試墊組設置于任意相鄰的焊盤之間的方法，從而避免將測試墊組設置于外引線焊接區(qū)的左右兩側(cè)，以解決現(xiàn)有技術中為配合縮小尺寸的測試墊組使用，而需要制造更精細的測試探針及測試治具以適配并測試縮小的測試墊組，導致制造成本增加，以及對探針接觸測試墊組的操作精準度要求更高，導致測試難度加大的技術問題。