一種視覺缺陷檢測設(shè)備及其檢測方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201810173748.X | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN108734690B | 公開(公告)日 | 2021-12-14 |
申請公布號 | CN108734690B | 申請公布日 | 2021-12-14 |
分類號 | G06T7/00(2017.01)I;G01N21/88(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 胡華亮;彭宏京;陶淳;牛雙云;利紅平;鄧剛 | 申請(專利權(quán))人 | 蘇州漢特士視覺科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京眾元弘策知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 孫東風(fēng) |
地址 | 215127江蘇省蘇州市吳中區(qū)甪直鎮(zhèn)凌港路128號3幢 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及提供一種視覺缺陷檢測設(shè)備及其檢測方法,通過生成對抗網(wǎng)絡(luò)獲得標準件數(shù)字圖像的分布概率,訓(xùn)練得到可將隱空間向量映射到標準件數(shù)字圖像的生成器G,再通過訓(xùn)練得到可實現(xiàn)數(shù)字圖像到隱空間向量映射的解碼器D,最后將經(jīng)預(yù)處理后得到的被檢測工件二值灰度圖像依次輸入解碼器D、生成器G得到與被檢測工件最接近的最接近標準圖像,利用差影法獲得被檢測工件二值灰度圖像與最接近標準圖像的差異值,通過比較差異值和閾值得出被檢測工件是缺陷件或非缺陷件的判斷;該檢測方法具有移植性高,通用性強,試錯時間短、檢測精度高的優(yōu)點。 |
