輻射測量設(shè)備和方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110117454.7 申請日 -
公開（公告）號 CN112946720A 公開（公告）日 2021-06-11
申請公布號 CN112946720A 申請公布日 2021-06-11
分類號 G01T1/18 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張俊奎;張陽天;涂德海;任恒飛;樂愛兵;吳彬;孫強(qiáng)強(qiáng) 申請（專利權(quán)）人 北京方鴻智能科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 代理人 張啟程
地址 101500 北京市密云區(qū)經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)園林路18號17號樓5206室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供輻射測量設(shè)備和方法。輻射測量設(shè)備包括第一蓋革?米勒計(jì)數(shù)器（GM1）、第二蓋革?米勒計(jì)數(shù)器（GM2）和加權(quán)計(jì)算器（20）。如果輻射能量相同，則第一和第二蓋革?米勒計(jì)數(shù)器的實(shí)測能量響應(yīng)值的誤差趨勢彼此不同，優(yōu)選地彼此相反。加權(quán)計(jì)算器對第一和第二蓋革?米勒計(jì)數(shù)器的實(shí)測能量響應(yīng)值進(jìn)行加權(quán)計(jì)算（例如取平均值），將計(jì)算出的值作為輻射測量設(shè)備的能量響應(yīng)測量值。第一和第二蓋革?米勒計(jì)數(shù)器都包括蓋革?米勒計(jì)數(shù)器裸管（11）和包裹在蓋革?米勒計(jì)數(shù)器裸管上的金屬層。輻射測量設(shè)備對高于80keV的γ/X射線的能量響應(yīng)測量值與其對由銫?137產(chǎn)生的662keV的γ射線的能量響應(yīng)測量值相比，歸一化后的差值在±10％以內(nèi)。