模擬檢測放射性沾染的檢測裝置及檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010095086.6 申請日 -
公開（公告）號 CN111257918A 公開（公告）日 2021-07-13
申請公布號 CN111257918A 申請公布日 2021-07-13
分類號 G01T1/167;G01R33/02;G01C21/18 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王茂飛;黃素平;涂德海;薛斌;任恒飛 申請（專利權）人 北京方鴻智能科技有限公司
代理機構 中科專利商標代理有限責任公司 代理人 方丁一
地址 101500 北京市密云區(qū)經(jīng)濟開發(fā)區(qū)園林路18號17號樓5206室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種模擬檢測放射性沾染的檢測裝置及檢測方法，所述檢測裝置包括：磁場傳感器，配置為檢測被測物體中設置的磁體產(chǎn)生的磁場的磁場強度；第一信號發(fā)射接收器，配置為接收被測物體中設置的第二信號發(fā)射接收器發(fā)射的第一信號；以及控制單元，配置為基于所述磁場傳感器檢測的磁場強度與所述第一信號發(fā)射接收器接收到的第一信號模擬出放射性沾染的放射強度，其中，所述第一信號包括可變的參數(shù)信息，所述放射強度隨著可變的參數(shù)信息的變化而變化。