IGBT器件動(dòng)態(tài)測(cè)試用夾具及方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010357952.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113655242A 公開（公告）日 2021-11-16
申請(qǐng)公布號(hào) CN113655242A 申請(qǐng)公布日 2021-11-16
分類號(hào) G01R1/04（2006.01）I;G01R31/26（2014.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 王真;萬超群;李貴生;陳彥;宋自珍;陳喻;李義;翟龍;朱婷 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 株洲中車時(shí)代半導(dǎo)體有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京聿宏知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 吳大建;張高潔
地址 412001湖南省株洲市石峰區(qū)田心高科園半導(dǎo)體三線辦公大樓三樓309室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種IGBT器件動(dòng)態(tài)測(cè)試用夾具及方法，涉及IGBT器件技術(shù)領(lǐng)域，用于降低測(cè)試電路中雜散電感。本發(fā)明的IGBT器件動(dòng)態(tài)測(cè)試用夾具，包括第一夾具、第二夾具和支撐架，通過將第一夾具和第二夾具分別設(shè)置為關(guān)于第一IGBT器件和第二IGBT器件對(duì)稱且具有層疊結(jié)構(gòu)，從而利用電磁耦合原理降低測(cè)試電路中雜散電感，有助于提升器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試的可靠性。