涂層測(cè)厚儀測(cè)頭

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202020198868.8 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN211477062U 公開(公告)日 2020-09-11
申請(qǐng)公布號(hào) CN211477062U 申請(qǐng)公布日 2020-09-11
分類號(hào) G01B21/08(2006.01)I;G01B7/06(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 張磊 申請(qǐng)(專利權(quán))人 北京時(shí)代之峰科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 北京時(shí)代之峰科技有限公司
地址 100094北京市海淀區(qū)尚東數(shù)字谷8號(hào)院37號(hào)樓5層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提出一種涂層測(cè)厚儀測(cè)頭,涉及厚度測(cè)量儀器領(lǐng)域,該涂層測(cè)厚儀測(cè)頭包括:測(cè)頭本體,呈筒狀且具有沿其軸向開設(shè)的第一安裝腔,第一安裝腔的一端具有開口,在開口處安裝有用于測(cè)量涂層厚度的測(cè)量組件;手柄,呈筒狀并固接在測(cè)頭本體的外側(cè)壁上,手柄內(nèi)開設(shè)有第二安裝腔,第二安裝腔內(nèi)設(shè)置有電路板,電路板通過電線與測(cè)量組件電連接。本實(shí)用新型提出的涂層測(cè)厚儀測(cè)頭具有小巧的外形以滿足小直徑內(nèi)孔壁及窄槽壁的涂層厚度測(cè)量。??