涂層測厚儀測頭

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202020198868.8 申請日 -
公開(公告)號 CN211477062U 公開(公告)日 2020-09-11
申請公布號 CN211477062U 申請公布日 2020-09-11
分類號 G01B21/08(2006.01)I;G01B7/06(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 張磊 申請(專利權(quán))人 北京時代之峰科技有限公司
代理機構(gòu) 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 北京時代之峰科技有限公司
地址 100094北京市海淀區(qū)尚東數(shù)字谷8號院37號樓5層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提出一種涂層測厚儀測頭,涉及厚度測量儀器領(lǐng)域,該涂層測厚儀測頭包括:測頭本體,呈筒狀且具有沿其軸向開設的第一安裝腔,第一安裝腔的一端具有開口,在開口處安裝有用于測量涂層厚度的測量組件;手柄,呈筒狀并固接在測頭本體的外側(cè)壁上,手柄內(nèi)開設有第二安裝腔,第二安裝腔內(nèi)設置有電路板,電路板通過電線與測量組件電連接。本實用新型提出的涂層測厚儀測頭具有小巧的外形以滿足小直徑內(nèi)孔壁及窄槽壁的涂層厚度測量。??