平面型IGBT結(jié)構(gòu)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202011330868.X | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112447826A | 公開(公告)日 | 2021-03-05 |
申請公布號 | CN112447826A | 申請公布日 | 2021-03-05 |
分類號 | H01L29/06(2006.01)I;H01L29/739(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 吳郁;方明;胡冬青;劉廣海;薛云峰 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳吉華微特電子有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 深圳市中科創(chuàng)為專利代理有限公司 | 代理人 | 馮建華;彭濤 |
地址 | 100124北京市朝陽區(qū)平樂園100號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開平面型IGBT結(jié)構(gòu),包括芯片主體,所述芯片主體上設(shè)有多個平行分布的P阱,多個P阱間的步距由芯片主體的中心向邊緣由小變大取值設(shè)置。通過對多個平行分布的P阱間的步距進(jìn)行設(shè)置,使得多個P阱在芯片上的分布由中心向邊緣由密變疏,該設(shè)置使得芯片中心區(qū)域的通態(tài)壓降略高,周圍區(qū)域的通態(tài)壓降低,有效改善了芯片的散熱性能及芯片上溫度分布不均勻而導(dǎo)致的電流分布不均勻的情況,溝道沿(100)晶面的<100>晶向?qū)щ娨蔡岣咝酒膶?dǎo)電性能。本發(fā)明的設(shè)計使平面型IGBT具有優(yōu)異的散熱一致性,防止芯片由于溫度分布不均,某一點過熱而導(dǎo)致燒毀,損毀整個芯片,大大提高芯片的可靠性。?? |
