具有內(nèi)嵌溝道二極管的分離柵MOS結(jié)構(gòu)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110469803.1 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113193042A | 公開(公告)日 | 2021-07-30 |
申請公布號 | CN113193042A | 申請公布日 | 2021-07-30 |
分類號 | H01L29/423;H01L29/78;H01L27/06 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 李新宇;賈云鵬;周新田;賈國;趙元富;王大明;方星宇;王立昊;胡冬青;吳郁;鄧中翰 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳吉華微特電子有限公司 |
代理機構(gòu) | 深圳市中科創(chuàng)為專利代理有限公司 | 代理人 | 馮建華;彭濤 |
地址 | 100124 北京市朝陽區(qū)平樂園100號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及MOS管結(jié)構(gòu)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種具有內(nèi)嵌溝道二極管的分離柵MOS結(jié)構(gòu),包括溝道二極管多晶硅、MOSFET柵極多晶硅及對稱設(shè)置的第一柵氧化層與第二柵氧化層,所述溝道二極管多晶硅設(shè)置在第一柵氧化層內(nèi),所述MOSFET柵極多晶硅設(shè)置在第二柵氧化層內(nèi),所述溝道二極管多晶硅朝向MOSFET柵極多晶硅所對應(yīng)的第一柵氧化層的厚度D1小于MOSFET柵極多晶硅朝向溝道二極管多晶硅所對應(yīng)的第二柵氧化層的厚度D2。本發(fā)明的具有內(nèi)嵌溝道二極管的分離柵MOS結(jié)構(gòu)具有較小的反向開啟電壓,優(yōu)化了反向電流震蕩的問題,有利于解決目前SGTMOS技術(shù)的反向恢復(fù)能力較弱的技術(shù)問題,同時提升了產(chǎn)品的效率性,相較于并聯(lián)體外二極管的方式,也降低了電路的復(fù)雜程度及生產(chǎn)成本。 |
