高增益的紫外雪崩探測(cè)器
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201710453903.9 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN107275435B | 公開(公告)日 | 2019-04-09 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN107275435B | 申請(qǐng)公布日 | 2019-04-09 |
分類號(hào) | H01L31/107(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 張翼; 陳勘; 楊路華; 李培咸; 廉大楨 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 西安中為光電科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京鼎宏元正知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 西安中為光電科技有限公司 |
地址 | 710000 陜西省西安市電子城電子西街3號(hào)201號(hào)廠房二層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種高增益的紫外雪崩探測(cè)器,包括藍(lán)寶石襯底,藍(lán)寶石襯底上生長(zhǎng)有外延層,i型AlyGa1?yN吸收層上設(shè)置有N型歐姆接觸電極和ITO分離層,ITO分離層上設(shè)置有SiO2倍增層,SiO2倍增層設(shè)置有Ni/Au肖特基接觸層,Ni/Au肖特基接觸層上還設(shè)置有P型歐姆接觸電極;本發(fā)明的有益效果是:通過一種全新的高增益的紫外雪崩探測(cè)器制作方法,經(jīng)過精確的膜層結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)器件擊穿電壓、響應(yīng)度、增益因子、暗電流等參數(shù)的可調(diào)可控,還具有基礎(chǔ)的外延片可根據(jù)不同的設(shè)計(jì)指標(biāo)重復(fù)使用的特點(diǎn)。 |
