一種用于拭子樣本檢測(cè)的快速測(cè)試卡

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202022678380.8 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN213715236U 公開（公告）日 2021-07-16
申請(qǐng)公布號(hào) CN213715236U 申請(qǐng)公布日 2021-07-16
分類號(hào) G01N33/558（2006.01）I;G01N33/543（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 李文娜;胡飛;邱笑違;董颯英 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京樂普診斷科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京中創(chuàng)博騰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 王婷婷
地址 102200北京市昌平區(qū)科技園區(qū)超前路37號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型涉及一種用于拭子樣本檢測(cè)的快速測(cè)試卡，屬于樣本檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，包括處理層、固定層、傳輸測(cè)試層和顯示層，所述處理層、固定層、傳輸測(cè)試層和顯示層之間通過連接部自下往上依次堆疊連接，所述固定層上設(shè)置用于對(duì)樣本拭子進(jìn)行固定的壓持機(jī)構(gòu)，所述處理層上設(shè)置容納腔，所述傳輸測(cè)試層上設(shè)置貫穿層體的傳輸部，所述壓持機(jī)構(gòu)位于容納腔和傳輸部之間，安裝在固定層上的樣本拭子頭部上方與傳輸部接觸，頭部下方與處理層的容納腔接觸，所述顯示層上設(shè)置用于讀取傳輸測(cè)試層數(shù)據(jù)的顯示窗，用以解決現(xiàn)有技術(shù)的檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)效率低且易出現(xiàn)污染的技術(shù)問題。