一種差分耦合線及其制備方法和損耗測(cè)試方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010303851.9 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN111458588B 公開(kāi)(公告)日 2022-05-31
申請(qǐng)公布號(hào) CN111458588B 申請(qǐng)公布日 2022-05-31
分類號(hào) G01R31/00(2006.01)I;G01R27/02(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 羊楊 申請(qǐng)(專利權(quán))人 恒為科技(上海)股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 -
地址 201114上海市閔行區(qū)陳行公路2388號(hào)8號(hào)樓6樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)公開(kāi)了一種差分耦合線及其制備方法和損耗測(cè)試方法,其中,所述差分耦合線除了信號(hào)線之外,還包括兩個(gè)第一測(cè)試線和兩個(gè)第二測(cè)試線,所述第一測(cè)試線的一端與所述第一信號(hào)線的一端連接,另一端用于連接測(cè)試連接器,所述第二測(cè)試線的一端與所述第二信號(hào)線的一端連接,另一端用于連接測(cè)試連接器,且所述第一測(cè)試線的阻抗與所述第一信號(hào)線的阻抗匹配,所述第二測(cè)試線與所述第二信號(hào)線的阻抗匹配,使得在對(duì)所述差分耦合線進(jìn)行損耗測(cè)試時(shí),可以通過(guò)為所述第一測(cè)試線和第二測(cè)試線連接測(cè)試連接器的方式對(duì)所述差分耦合線進(jìn)行損耗測(cè)試,解決了現(xiàn)有技術(shù)中無(wú)法對(duì)差分耦合線進(jìn)行損耗測(cè)試的問(wèn)題。