用于對非接觸姿態(tài)測量設(shè)備進行標定的標定系統(tǒng)及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010414136.2 申請日 -
公開（公告）號 CN111504344A 公開（公告）日 2020-08-07
申請公布號 CN111504344A 申請公布日 2020-08-07
分類號 G01C25/00;G01C1/00 分類 -
發(fā)明人 楊君;習先強 申請（專利權(quán)）人 天津時空經(jīng)緯測控技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 北京萬思博知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 天津時空經(jīng)緯測控技術(shù)有限公司
地址 300380 天津市西青區(qū)中北工業(yè)園星光路27號北辦公樓101-102
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種用于對非接觸姿態(tài)測量設(shè)備進行標定的標定系統(tǒng)及方法。其中，非接觸姿態(tài)測量設(shè)備包括用于測量與被測物體的姿態(tài)相關(guān)的姿態(tài)信息的光學準直裝置和用于測量與光學準直裝置的姿態(tài)相關(guān)的姿態(tài)信息的姿態(tài)測量裝置，并且標定系統(tǒng)包括：姿態(tài)調(diào)整設(shè)備，用于調(diào)整非接觸姿態(tài)測量設(shè)備的姿態(tài)；反射部件，設(shè)置有朝向光學準直裝置的參考反射面；以及計算設(shè)備，與光學準直裝置以及姿態(tài)測量裝置連接，配置用于：根據(jù)從光學準直裝置接收的第一測量信息確定光學準直裝置的第一姿態(tài)信息；根據(jù)從姿態(tài)測量裝置接收的第二測量信息確定光學準直裝置的第二姿態(tài)信息；以及根據(jù)第一姿態(tài)信息和第二姿態(tài)信息，對非接觸姿態(tài)測量設(shè)備進行標定。