一種基于圖像處理的結(jié)構(gòu)件生產(chǎn)過程缺陷檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110964581.0 申請日 -
公開（公告）號 CN113421261B 公開（公告）日 2021-11-05
申請公布號 CN113421261B 申請公布日 2021-11-05
分類號 G06T7/00（2017.01）I;G06T7/136（2017.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 姬國華;鄭代順;路秋媛 申請（專利權(quán)）人 金成技術股份有限公司
代理機構(gòu) 鄭州芝麻知識產(chǎn)權(quán)代理事務所（普通合伙） 代理人 張丹丹
地址 272500 山東省濟寧市汶上縣金成路1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及人工智能技術領域，具體涉及一種基于圖像處理的結(jié)構(gòu)件生產(chǎn)過程缺陷檢測方法。該方法通過X射線獲得結(jié)構(gòu)件的射線圖像，通過射線圖像上的缺陷區(qū)域構(gòu)建缺陷分布圖。以缺陷分布圖上缺陷連通域內(nèi)像素值最小的像素點作為暗像素點，通過暗像素點的分散程度和暗像素點與連通域中心的距離關系進行兩次篩選，獲得缺陷類型為夾渣的缺陷連通域和需要繼續(xù)檢測的第二待檢測連通域。通過第二待檢測連通域內(nèi)像素點的第一像素分布和第二像素分布進行兩次篩選，完成對所有缺陷連通域的缺陷類型檢測。本發(fā)明通過充分考慮氣孔和夾渣的像素值差異特征，準確高效的完成缺陷檢測。