一種大電流功率器件測試治具使用壽命管理方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110155302.6 申請日 -
公開（公告）號 CN112964926B 公開（公告）日 2022-05-13
申請公布號 CN112964926B 申請公布日 2022-05-13
分類號 G01R19/17（2006.01）I;G01R27/02（2006.01）I;G01R31/00（2006.01）I;G06M1/27（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王異凡;龔金龍;楊青;劉黎;王一帆;孫明;林氦;鄧志江;曾振源;張斌;陳少華;宋琦華;周迅;曹力力;張翾喆;汪楨毅;姜烔挺 申請（專利權(quán)）人 浙江大學(xué)紹興微電子研究中心
代理機(jī)構(gòu) 浙江翔隆專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 310014浙江省杭州市下城區(qū)朝暉八區(qū)華電弄1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種大電流功率器件測試治具使用壽命管理方法，屬于電力技術(shù)領(lǐng)域，目的在于克服現(xiàn)有測試治具壽命判定不準(zhǔn)確的缺陷。測試治具使用壽命管理方法，當(dāng)測試治具達(dá)成第一條件、第二條件和第三條件之一時(shí)，則判斷測試治具壽命終止。本發(fā)明所提供的一種大電流功率器件測試治具使用壽命管理方法，通過預(yù)設(shè)三種條件，當(dāng)其中一種條件滿足時(shí)就判斷測試治具壽命終止，其中第一條件為對接插件接插動作次數(shù)、通電次數(shù)和過流次數(shù)的綜合考量，第二條件為對接插件阻抗增加程度的考量，第三條件為對接插件相鄰兩次阻抗變化率的考量，這樣就提高了判斷測試治具壽命終止的可靠性。