一種功率半導(dǎo)體特性參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)及方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111098043.4 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN113884850A | 公開(kāi)(公告)日 | 2022-01-04 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113884850A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-01-04 |
分類號(hào) | G01R31/26(2014.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 王異凡;龔金龍;宋琦華;孫明;王一帆;駱麗;王尊;劉黎;邵先軍;王少華;陳虔;曾明全;李文燕;鄧志江;張斌;林氦;郭清;陳少華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 浙江大學(xué)紹興微電子研究中心 |
代理機(jī)構(gòu) | 浙江翔隆專利事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 許守金 |
地址 | 310014浙江省杭州市下城區(qū)朝暉八區(qū)華電弄1號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種功率半導(dǎo)體特性參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)及方法,屬于半導(dǎo)體特性參數(shù)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明的一種功率半導(dǎo)體特性參數(shù)測(cè)試系統(tǒng),包括功率主回路、雙脈沖測(cè)試電路、電感阻隔電路。本發(fā)明設(shè)置輔助功率半導(dǎo)體對(duì)待測(cè)功率半導(dǎo)體的導(dǎo)通時(shí)間以及電路通斷進(jìn)行控制,并在功率半導(dǎo)體兩端設(shè)置吸收電容,能夠有效阻隔母線電容到測(cè)試半橋之間的部分寄生電感;同時(shí)功率主回路采用疊層母排結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)置,通過(guò)較小的回路面積大大降低了雜散電感,能夠以更低的電壓實(shí)現(xiàn)高電流承載。進(jìn)而本發(fā)明能夠有效減小電壓過(guò)沖疊加以及開(kāi)關(guān)損耗,同時(shí)能有效避免電磁干擾,使得本發(fā)明特別適用于對(duì)第三代半導(dǎo)體高壓SiC功率器件進(jìn)行高精度的動(dòng)態(tài)特性參數(shù)測(cè)試。 |
