一種用于集成運(yùn)放測試的裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200920245790.4 申請日 -
公開（公告）號 CN201555931U 公開（公告）日 2010-08-18
申請公布號 CN201555931U 申請公布日 2010-08-18
分類號 G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李仰鶴 申請（專利權(quán)）人 西安明泰半導(dǎo)體測試有限公司
代理機(jī)構(gòu) 西安弘理專利事務(wù)所 代理人 西安明泰半導(dǎo)體測試有限公司
地址 710065 陜西省西安市高新區(qū)錦業(yè)路28號創(chuàng)業(yè)新大陸工業(yè)園B-1
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種用于集成運(yùn)放測試的裝置，包括測試裝置，測試裝置與TR-6800主機(jī)和探針臺分別連接，TR-6800主機(jī)與工業(yè)PC和探針臺分別連接；所述的測試裝置，由待測器件的DUT底板和多個(gè)運(yùn)放測試小板組成，DUT底板上設(shè)置有多個(gè)30型針插槽，每個(gè)30型針插槽用于與一塊運(yùn)放測試小板連接，DUT底板上設(shè)置有一個(gè)雙運(yùn)放測試座、一個(gè)四運(yùn)放測試座和一個(gè)信號傳輸接口。本實(shí)用新型的裝置，可以在TR-6800集成電路測試系統(tǒng)上跟據(jù)可編程源的多少來選擇串行或并行測試，具有測試項(xiàng)目全面，測試數(shù)據(jù)精確，工作穩(wěn)定的特點(diǎn)。