鋼化玻璃幕墻雜質(zhì)和缺陷現(xiàn)場檢測儀光源

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201930533676.0 申請日 -
公開（公告）號 CN305700116S 公開（公告）日 2020-04-10
申請公布號 CN305700116S 申請公布日 2020-04-10
分類號 - 分類 -
發(fā)明人 林桐杉;常俏;胡哲;黃達泉;魏天虎 申請（專利權(quán)）人 北京奧博泰科技有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 100070 北京市豐臺區(qū)科技園區(qū)外環(huán)西路26號院19號樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 1.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的名稱：鋼化玻璃幕墻雜質(zhì)和缺陷現(xiàn)場檢測儀光源。 2.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的用途：本外觀設(shè)計產(chǎn)品用于鋼化玻璃幕墻雜質(zhì)和缺陷現(xiàn)場檢測儀的偏振光產(chǎn)生。 3.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的設(shè)計要點：在于形狀與圖案的結(jié)合。 4.最能表明設(shè)計要點的圖片或照片：立體圖。