一種現(xiàn)場檢測鋼化玻璃幕墻雜質(zhì)和缺陷的裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201921626981.5 申請日 -
公開（公告）號 CN211043169U 公開（公告）日 2020-07-17
申請公布號 CN211043169U 申請公布日 2020-07-17
分類號 G01N21/88;G01N21/958;G08C17/02 分類 -
發(fā)明人 魏天虎;閻強(qiáng);黃達(dá)泉;胡乃東;常俏;石清;胡哲;林桐杉 申請（專利權(quán)）人 北京奧博泰科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 100070 北京市豐臺區(qū)科技園區(qū)外環(huán)西路26號院19號樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種現(xiàn)場檢測鋼化玻璃幕墻雜質(zhì)和缺陷的裝置，包括偏振光源、檢測主機(jī)和連接線，偏振光源和檢測主機(jī)通過連接線相連。所述偏振光源包括起偏片、LED光源、第一電源模塊、第一無線通信模塊、第一控制模塊、用于與磁鐵吸合的鐵板和第一殼體，用于形成線偏振光。所述檢測主機(jī)包括圖像采集模塊、人機(jī)接口模塊、第二電源模塊、第二無線通信模塊、第二控制模塊、磁鐵和第二殼體，用于采集光彈圖像和原始圖像，分析確定雜質(zhì)和缺陷的類型、尺寸和位置等信息。本實(shí)用新型適合在現(xiàn)場對已服役的鋼化玻璃幕墻進(jìn)行雜質(zhì)和缺陷檢測。