一種電子注入增強(qiáng)型的高壓IGBT及其制造方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201510375474.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN105047705B | 公開(公告)日 | 2018-04-27 |
申請公布號 | CN105047705B | 申請公布日 | 2018-04-27 |
分類號 | H01L29/739;H01L21/331;H01L29/06;H01L29/423;H01L21/28 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 王彩琳;井亞會 | 申請(專利權(quán))人 | 芯派科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 西安弘理專利事務(wù)所 | 代理人 | 王奇 |
地址 | 710048 陜西省西安市金花南路5號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種電子注入增強(qiáng)型的高壓IGBT,在n?硅襯底上方中間部位溝槽內(nèi)和兩側(cè)的平面部分設(shè)有柵氧化層,柵氧化層上方設(shè)有多晶硅層,稱為溝槽?平面柵極G;溝槽?平面柵極G兩側(cè)的n?硅襯底上各設(shè)有一個p基區(qū),并通過柵氧化層與溝槽?平面柵極G隔離,每個p基區(qū)內(nèi)n+發(fā)射區(qū)上表面與所在p基區(qū)短路分別形成一個發(fā)射極E;n?漂移區(qū)上方與兩側(cè)p基區(qū)底部相接處設(shè)有分立的n載流子存儲層;n?漂移區(qū)下方依次設(shè)有n場阻止層、p+集電區(qū)、集電極C。本發(fā)明還公開了上述電子注入增強(qiáng)型的高壓IGBT制造方法。本發(fā)明的高壓IGBT結(jié)構(gòu),顯著改善器件導(dǎo)通時的飽和電壓,阻斷電壓高、通態(tài)損耗低、閂鎖電流密度較高。 |
