一種COS的激光發(fā)散角測試設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202023301957.X 申請日 -
公開（公告）號 CN214040588U 公開（公告）日 2021-08-24
申請公布號 CN214040588U 申請公布日 2021-08-24
分類號 G01M11/02（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳曉華;馬威;楊海強(qiáng);肜淼;于振坤 申請（專利權(quán)）人 北京凱普林光電科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京市隆安律師事務(wù)所 代理人 權(quán)鮮枝;朱營琢
地址 100070北京市豐臺區(qū)航豐路甲4號5層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種COS的激光發(fā)散角測試設(shè)備，所述測試設(shè)備包括基座、COS三維調(diào)節(jié)架、COS裝夾夾具、光電探測器支架和轉(zhuǎn)臺，COS三維調(diào)節(jié)架、光電探測器支架設(shè)置在基座上，COS裝夾夾具設(shè)置在COS三維調(diào)節(jié)架上，COS裝夾夾具上的COS和所述光電探測器支架上的光電探測器在同一中心高度，轉(zhuǎn)臺設(shè)置在COS裝夾夾具和/或光電探測器支架的底部或者頂部，用于實現(xiàn)COS和光電探測器相對轉(zhuǎn)動，在轉(zhuǎn)動過程中利用所述光電探測器測量并記錄不同轉(zhuǎn)動角度時的激光能量值，并且根據(jù)所述激光能量值計算確定出所述激光的發(fā)散角。上述設(shè)備操作方便，設(shè)備制造成本和人力成本低，可以實現(xiàn)大電流和脈沖電流的測試。