基于標志點的全局絕對相位對齊方法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110301467.X 申請日 -
公開（公告）號 CN113074667A 公開（公告）日 2021-07-06
申請公布號 CN113074667A 申請公布日 2021-07-06
分類號 G01B11/25（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 趙順順;田乃魯;谷孝東;黃煜;曹葵康;劉明星;徐一華;其他發(fā)明人請求不公開姓名 申請（專利權(quán)）人 蘇州天準軟件有限公司
代理機構(gòu) 上海華誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 徐穎聰
地址 215000江蘇省蘇州市高新區(qū)科靈路78號2號樓502室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于標志點的全局絕對相位對齊方法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)，方法適用于采用空間相位展開算法進行相位解包裹場合，系統(tǒng)采用該方法輸出了三維信息，主要解決了如何對齊測量平面相位與投影儀像平面全局絕對相位的問題。主要步驟包括：在投射條紋圖像時，額外投射一幅標志點圖像；通過閾值分割、邊緣提取、最小外接矩形方法，提取出標志點中心；根據(jù)已有的測量平面解包裹相位圖，得到該測量平面上標志點位置的相位級次ki，（i＝1,2,3…）；已知在投影儀中，標志點處的全局絕對相位級次為j，記Δk＝j(luò)?k，將測量平面解包裹相位圖上所有像素點的條紋級次都加上Δk，即可使得測量平面相位與全局絕對相位對齊。本發(fā)明只需一幅標志點圖像即可使得測量平面相位與全局絕對相位對齊，準確性高，兼具魯棒性與效率。