基于標(biāo)志點(diǎn)的全局絕對(duì)相位對(duì)齊方法、存儲(chǔ)介質(zhì)和系統(tǒng)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110301467.X | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN113074667A | 公開(公告)日 | 2021-07-06 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113074667A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-07-06 |
分類號(hào) | G01B11/25(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 趙順順;田乃魯;谷孝東;黃煜;曹葵康;劉明星;徐一華;其他發(fā)明人請(qǐng)求不公開姓名 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 蘇州天準(zhǔn)軟件有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海華誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 徐穎聰 |
地址 | 215000江蘇省蘇州市高新區(qū)科靈路78號(hào)2號(hào)樓502室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于標(biāo)志點(diǎn)的全局絕對(duì)相位對(duì)齊方法、存儲(chǔ)介質(zhì)和系統(tǒng),方法適用于采用空間相位展開算法進(jìn)行相位解包裹場(chǎng)合,系統(tǒng)采用該方法輸出了三維信息,主要解決了如何對(duì)齊測(cè)量平面相位與投影儀像平面全局絕對(duì)相位的問(wèn)題。主要步驟包括:在投射條紋圖像時(shí),額外投射一幅標(biāo)志點(diǎn)圖像;通過(guò)閾值分割、邊緣提取、最小外接矩形方法,提取出標(biāo)志點(diǎn)中心;根據(jù)已有的測(cè)量平面解包裹相位圖,得到該測(cè)量平面上標(biāo)志點(diǎn)位置的相位級(jí)次ki,(i=1,2,3…);已知在投影儀中,標(biāo)志點(diǎn)處的全局絕對(duì)相位級(jí)次為j,記Δk=j(luò)?k,將測(cè)量平面解包裹相位圖上所有像素點(diǎn)的條紋級(jí)次都加上Δk,即可使得測(cè)量平面相位與全局絕對(duì)相位對(duì)齊。本發(fā)明只需一幅標(biāo)志點(diǎn)圖像即可使得測(cè)量平面相位與全局絕對(duì)相位對(duì)齊,準(zhǔn)確性高,兼具魯棒性與效率。 |
