可控硅檢測電路及方法、集成芯片和照明驅(qū)動(dòng)電路

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110956300.7 申請日 -
公開（公告）號 CN113853039A 公開（公告）日 2021-12-28
申請公布號 CN113853039A 申請公布日 2021-12-28
分類號 H05B45/30（2020.01）I;H05B45/56（2020.01）I 分類 其他類目不包含的電技術(shù);
發(fā)明人 張勝有;向睿 申請（專利權(quán)）人 杰華特微電子（成都）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州創(chuàng)智卓英知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 張超
地址 610000四川省成都市高新區(qū)吉泰路666號3棟9層3號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及一種可控硅檢測電路、可控硅檢測方法、集成芯片和具有可控硅檢測的照明驅(qū)動(dòng)電路，該可控硅檢測電路包括電壓采樣電路、觸發(fā)電路和檢測電路，通過電壓采樣電路采集母線電壓，通過觸發(fā)電路接收母線電壓和第一電壓閾值，當(dāng)母線電壓上升到第一電壓閾值時(shí)，產(chǎn)生第一觸發(fā)信號，通過檢測電路設(shè)置時(shí)間閾值和第二電壓閾值，通過檢測電路接收第一觸發(fā)信號，當(dāng)?shù)谝挥|發(fā)信號有效時(shí)，檢測電路根據(jù)母線電壓、時(shí)間閾值和第二電壓閾值判斷可控硅的接入情況，如此，提高了電路的適用性。本申請解決了相關(guān)技術(shù)中功耗大且發(fā)熱嚴(yán)重的問題，提高了安全性。