一種超薄硅片的制備方法、超薄硅片以及太陽(yáng)能電池
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011603101.X | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN114695232A | 公開(kāi)(公告)日 | 2022-07-01 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN114695232A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-07-01 |
分類號(hào) | H01L21/683(2006.01)I;H01L31/18(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 吳兆;徐琛;李子峰;靳金玲;解俊杰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 隆基綠能科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京潤(rùn)澤恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 710100陜西省西安市長(zhǎng)安區(qū)航天中路388號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種超薄硅片的制備方法、超薄硅片以及太陽(yáng)能電池,涉及太陽(yáng)能光伏技術(shù)領(lǐng)域。其中,在硅襯底上可以形成缺陷層與外延層,且缺陷層在硅襯底與外延層之間,通過(guò)在硅襯底進(jìn)行加熱的方法,使得硅襯底和外延層的界面處形成熱膨脹應(yīng)力,熱膨脹應(yīng)力具有較好的應(yīng)力均勻性,便于外延層的剝離,由于對(duì)硅襯底施加熱膨脹應(yīng)力降低了對(duì)外延層剝離的難度,因此,也降低了對(duì)缺陷層中缺陷密度的要求,缺陷層中較低的缺陷密度可有效提高缺陷層上外延層的質(zhì)量;同時(shí),對(duì)硅襯底施加的熱膨脹應(yīng)力也降低了對(duì)外延層進(jìn)行剝離時(shí)施加應(yīng)力的要求,避免了高應(yīng)力對(duì)外延層的破壞,提高了超薄硅片制備的良率和效率,工藝重復(fù)性好。 |
