一種超薄硅片的切片方法、超薄硅片以及太陽(yáng)能電池
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011603161.1 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN114695233A | 公開(kāi)(公告)日 | 2022-07-01 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN114695233A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-07-01 |
分類號(hào) | H01L21/683(2006.01)I;H01L31/18(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 吳兆;徐琛;李子峰;靳金玲;解俊杰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 隆基綠能科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京潤(rùn)澤恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 710100陜西省西安市長(zhǎng)安區(qū)航天中路388號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種超薄硅片的切片方法、超薄硅片以及太陽(yáng)能電池,涉及太陽(yáng)能光伏技術(shù)領(lǐng)域。其中,在硅塊體的表層下方設(shè)置缺陷層,此時(shí),可以對(duì)表層進(jìn)行加熱,使得缺陷層一側(cè)的表層獲得熱膨脹應(yīng)力,缺陷層另一側(cè)的硅塊體產(chǎn)生應(yīng)力梯度,相比于未施加熱膨脹應(yīng)力時(shí),表層與硅塊體更易于從缺陷層的位置分離,從而降低了對(duì)缺陷層缺陷密度的要求,提高了缺陷層的設(shè)置速率以及表層的晶體質(zhì)量;同時(shí)向表層施加的熱膨脹應(yīng)力,也可以在剝離表層的過(guò)程中降低對(duì)表層的邊緣施加應(yīng)力的要求,從而避免造成超薄硅片的損傷,提升切片得到的超薄硅片的質(zhì)量,因此,本發(fā)明實(shí)施例提供的超薄硅片的切片方法生產(chǎn)速率高、重復(fù)性好、產(chǎn)品良率高,能夠獲得高質(zhì)量的超薄硅片。 |
