一種基于Transformer的缺陷檢測方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110719488.3 申請日 -
公開（公告）號 CN113610754A 公開（公告）日 2021-11-05
申請公布號 CN113610754A 申請公布日 2021-11-05
分類號 G06T7/00（2017.01）I;G06T7/62（2017.01）I;G06T3/40（2006.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06K9/62（2006.01）I 分類 計算；推算；計數;
發(fā)明人 葉朝偉 申請（專利權）人 浙江文谷科技有限公司
代理機構 寧波甬致專利代理有限公司 代理人 李迎春
地址 315194浙江省寧波市鄞州區(qū)首南街道新興工業(yè)園區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及缺陷檢測技術領域，公開了一種基于Transformer的缺陷檢測方法及系統(tǒng)，本方法包括步驟：S1：獲取待測目標的圖像信息，并對待測目標的圖像信息進行預設第一處理；S2：將預設第一處理后的待測目標的圖像信息通過CNNBackbone進行特征提取，得到待測目標的圖像特征信息；S3：將待測目標的圖像特征信息輸入Transformer結構中進行預設第二處理，并輸出N個目標隊列。本方法能夠通過通過引入DETR（DetectionTransformer）算法來建立聯(lián)合檢測模型，使其既可適用于在小目標上的缺陷檢測，也適用于在大目標上的缺陷檢測。