一種提升阻抗精度的控制方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011427896.3 申請日 -
公開（公告）號 CN112654158B 公開（公告）日 2022-05-17
申請公布號 CN112654158B 申請公布日 2022-05-17
分類號 H05K3/00（2006.01）I 分類 其他類目不包含的電技術(shù);
發(fā)明人 吳飛;雷紅慧;張德金;程卓;寧玉杰;謝奉光 申請（專利權(quán)）人 廣州廣合科技股份有限公司
代理機構(gòu) 廣州市時代知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 510730廣東省廣州市保稅區(qū)保盈南路22號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種提升阻抗精度控制方法，包括如下步驟：對殘銅率進行預(yù)估，得到生產(chǎn)殘銅率預(yù)估值；基于生產(chǎn)殘銅率預(yù)估值計算出介質(zhì)層厚度，進而計算出阻抗和差損；計算出生產(chǎn)殘銅率實際值；計算生產(chǎn)殘銅率實際值和生產(chǎn)殘銅率預(yù)估值之間的差值m，比較m和10%的大小，若m小于10%，則滿足阻抗精度，若m大于10%，則采用生產(chǎn)殘銅率實際值更新生產(chǎn)殘銅率預(yù)估值重新計算介質(zhì)層厚度和阻抗，直至滿足生產(chǎn)殘銅率實際值和生產(chǎn)殘銅率預(yù)估值之間的差值m小于10%。該方法依靠不同類型PCB單元板殘銅率分析實際加工的生產(chǎn)殘銅率預(yù)估值與生產(chǎn)殘銅率實際值比較差異，精確加工過程中做差異化分析及修正設(shè)計方式，減少實際過程中差異，從而提升阻抗精度要求。