PIN-FET光接收組件自動測試系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201610311739.3 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN105911394B | 公開(公告)日 | 2019-05-07 |
申請公布號 | CN105911394B | 申請公布日 | 2019-05-07 |
分類號 | G01R31/00(2006.01)I; G01M11/00(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 魏鐵鈞; 陳雪姝 | 申請(專利權(quán))人 | 北京浦丹光電股份有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京挺立專利事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 葉樹明 |
地址 | 100023 北京市大興區(qū)北京經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)經(jīng)海四路18號1幢、2幢 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種PIN?FET光接收組件自動測試系統(tǒng),包括光電測控平臺、測控模塊、被測器件適配器和上位機;所述光電測控平臺為插件式機箱,為插接的各功能模塊提供總線通訊和工作電源;所述光電測控平臺通過USB電纜或無線傳輸接口與上位機實現(xiàn)數(shù)據(jù)通訊;所述測控模塊與所述光電測控平臺插接后組成所述PIN?FET光接收組件自動測試系統(tǒng)的主機,所述主機通過通用或?qū)S玫墓饫|與電纜與所述被測器件適配器進行信號連接,實現(xiàn)對所述被測器件適配器的自動測試?;诠怆姕y控平臺實現(xiàn)PIN?FET器件參數(shù)測試,將不同的單參數(shù)測量設(shè)備功能重新進行規(guī)劃和整合,并實現(xiàn)為插件式模塊,采用統(tǒng)一的通信接口和通訊協(xié)議,能夠靈活的擴展硬件,方便快捷的建立測試程序。 |
