PIN-FET光接收組件自動(dòng)測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610311739.3 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN105911394B 公開（公告）日 2019-05-07
申請公布號(hào) CN105911394B 申請公布日 2019-05-07
分類號(hào) G01R31/00（2006.01）I; G01M11/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 魏鐵鈞; 陳雪姝 申請（專利權(quán)）人 北京浦丹光電股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京挺立專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 葉樹明
地址 100023 北京市大興區(qū)北京經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)經(jīng)海四路18號(hào)1幢、2幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種PIN?FET光接收組件自動(dòng)測試系統(tǒng)，包括光電測控平臺(tái)、測控模塊、被測器件適配器和上位機(jī)；所述光電測控平臺(tái)為插件式機(jī)箱，為插接的各功能模塊提供總線通訊和工作電源；所述光電測控平臺(tái)通過USB電纜或無線傳輸接口與上位機(jī)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)通訊；所述測控模塊與所述光電測控平臺(tái)插接后組成所述PIN?FET光接收組件自動(dòng)測試系統(tǒng)的主機(jī)，所述主機(jī)通過通用或?qū)Ｓ玫墓饫|與電纜與所述被測器件適配器進(jìn)行信號(hào)連接，實(shí)現(xiàn)對所述被測器件適配器的自動(dòng)測試?；诠怆姕y控平臺(tái)實(shí)現(xiàn)PIN?FET器件參數(shù)測試，將不同的單參數(shù)測量設(shè)備功能重新進(jìn)行規(guī)劃和整合，并實(shí)現(xiàn)為插件式模塊，采用統(tǒng)一的通信接口和通訊協(xié)議，能夠靈活的擴(kuò)展硬件，方便快捷的建立測試程序。