一種DAC電路測試方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111557265.8 申請日 -
公開（公告）號 CN114172514A 公開（公告）日 2022-03-11
申請公布號 CN114172514A 申請公布日 2022-03-11
分類號 H03M1/10（2006.01）I 分類 基本電子電路;
發(fā)明人 侯衛(wèi)兵;雷偉龍 申請（專利權(quán)）人 武漢力通通信有限公司
代理機構(gòu) 北京維正專利代理有限公司 代理人 梁棟
地址 430014湖北省武漢市武漢經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)南太子湖創(chuàng)新谷啟迪協(xié)信科創(chuàng)園（QDXX—G2002）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及一種DAC電路測試方法及系統(tǒng)，其屬于電路測試領域，其中，該方法應用于DAC電路測試裝置，DAC電路測試裝置連接待測DAC電路，用于向待測DAC電路發(fā)送基準電壓和數(shù)字信號，并接收待測DAC電路發(fā)送的模擬信號；包括接收待測DAC電路輸出的實時模擬信號；將實時模擬信號與預設的標準模擬信號進行比較后得到信號偏差值，信號偏差值與實時模擬信號一一對應；根據(jù)預設基準電壓范圍得到相應的多個實時模擬信號；根據(jù)多個實時模擬信號得到相應的多個信號偏差值，并對多個信號偏差值分析后得到多個信號偏差值的變化量；對信號偏差值與多個信號偏差值的變化量進行分析后得到檢測結(jié)果。本申請具有實現(xiàn)了測試DAC電路轉(zhuǎn)換準確性的效果。