一種用于半導(dǎo)體測試系統(tǒng)的人工測試控制裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201720277010.9 申請日 -
公開（公告）號 CN206773140U 公開（公告）日 2017-12-19
申請公布號 CN206773140U 申請公布日 2017-12-19
分類號 G01R31/26(2014.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 湯優(yōu)培;郭昭雄 申請（專利權(quán)）人 廣州新星微電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市科吉華烽知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 胡吉科
地址 510880 廣東省廣州市花都區(qū)花山鎮(zhèn)平山北路2號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供一種用于半導(dǎo)體測試系統(tǒng)的人工測試控制裝置，屬于電子元器件測試裝置領(lǐng)域。本實用新型包括通訊接口、測試啟動模塊、控制處理模塊、顯示模塊，所述控制處理模塊通過所述通訊接口與半導(dǎo)體測試系統(tǒng)相連，所述測試啟動模塊的輸出端與控制處理模塊輸入端相連，所述控制處理模塊輸出端與所述顯示模塊輸入端相連。本實用新型的有益效果為：適用于少量的電子元器件的測試檢驗，與自動化控制裝置相比，成本大大降低，結(jié)構(gòu)簡單，操作便捷。