超分辨率顯微鏡圖像的自適應校正方法及SIM-ODT雙模態(tài)系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110386643.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113112405A | 公開(公告)日 | 2021-07-13 |
申請公布號 | CN113112405A | 申請公布日 | 2021-07-13 |
分類號 | G06T3/40(2006.01)I;G02B27/58(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 莫燕權;陳良怡;毛珩;范駿超;豐帆;梁林濤;屠銳;杜珂;楊宏潤 | 申請(專利權)人 | 廣州超視計生物科技有限公司 |
代理機構 | 北京匯智勝知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 石輝;趙立軍 |
地址 | 510700廣東省廣州市黃埔區(qū)開源大道136號自編B棟302室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種超分辨率顯微鏡圖像的自適應校正方法及SIM?ODT雙模態(tài)系統(tǒng),該方法包括:步驟1a,根據(jù)光學傳遞函數(shù)以及樣本的SIM模態(tài)的原始熒光圖像,重建獲得帶偽影的初始SIM超分辨圖像;步驟2a,將初始SIM超分辨圖像和原始熒光圖像按照第一種劃分方式分割成若干第一SIM超分辨子圖像和原始熒光子圖像;步驟3a,通過三維折射率分布,沿SIM模態(tài)的光軸找出含有熒光信號的各原始熒光子圖像對應的成像焦平面及其對應的樣本層數(shù),并在含有熒光信號的各原始熒光子圖像的中心及該中心的相鄰區(qū)域的選定點處設置點光源;步驟4a,計算點光源從原始熒光子圖像對應的成像焦平面?zhèn)鞑サ綐颖颈砻娴牡谝还鈭龇植迹徊襟E5a,更新第一光學傳遞函數(shù);步驟6a,重建獲得原始熒光子圖像的第二SIM超分辨子圖像。本發(fā)明能夠對超分辨率顯微鏡重建圖像的各處像差和人造偽影進行自適應校正。 |
